JIS K0132-1997
扫描电子显微镜总则

General rules for scanning electron microscopy

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JIS K0132-1997 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

JIS K0132-1997

发布日期

1997年09月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

N33

国际标准分类号

37.020

发布单位

JP-JISC

适用范围

この規格は，走査電子顕微鏡を用いて，主として二 次電子による試料表面の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定する。