随着当今微机处理技术、集成电路技术、机电一体化技术等的发展,出现了用分形法、Motif *、*能参数集法、时间序列技术分析法、zui小二乘多项式拟合法、滤波法等各种评定理论与方法,取得了显著进展,下面对相对而言比较成熟的分形法、Motif *、特定*能参数集法进行介绍。1....
表面粗糙度仪(光洁度)的国家标准主要术语及定义本资料给出的参数符合GB/T3505-2000《产品几何技术规范表面结构 轮廓法 表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性》。25. 技术术语(1)表面粗糙度:取样长度L取样长度是用于判断和测量表面粗糙度时所规定的一段基准线长度,它在轮廓总的走向上取样。...
标准标题链接ISO 4287表面结构:轮廓法——术语、定义和表面结构参数https://www.iso.org/standard/10132.htmlISO 4288表面结构:轮廓法——表面轮廓评定规则和程序https://www.iso.org/standard/2096.htmlISO 8785表面缺陷——术语、定义和参数https://www.iso.org/standard/16210.htmlISO...
使用定义的统计分析方法分析数据,所得值用作表征表面形貌的参数,更具体地说,即表面粗糙度、波纹度、层次和缺陷。可使用各种方法获取2D或3D的表面形貌图像。最常用的是[1-3]:接触/非接触式轮廓测量法和探针显微镜,其中形貌数据通过表面上的精细探针扫描来收集;使用光的干涉测量、聚焦和相位检测或共聚焦显微镜的光学轮廓测量法;以及使用通常需要特殊软件来显示3D形貌的扫描电子显微镜(SEM)。...
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