JIS H 8680-3:1998
铝和铝合金的阳极氧化膜厚度试验方法.第3部分:用分光束显微镜的无损测量

Test methods for thickness of anodic oxide coatings on aluminium and aluminium alloys -- Part 3: Non-destructive measurement by split-beam microscope

作废

标准号: JIS H 8680-3:1998
发布: 1998年
发布单位: 日本工业标准调查会
替代标准: JIS H 8680-3:2013
当前最新: JIS H 8680-3:2013

适用范围: この規格は，アルミニウム及びアルミニウム合金の製品(以下，製品という。)に施した陽極酸化皮膜(以下，皮膜という。)のスプリットビーム顕微鏡測定法による皮膜厚さ試験方法について規定する。

JIS H 8680-3:1998相似标准

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涡流测厚仪的操作注意要点

2.自动纠错　仅按两次键，即可排除因误操作造成的显示混乱或无显示等故障。3.数据统计　输出一组测量的平均值、zui大值、zui小值、标准偏差和测量次数等数据。4.电源控制　电池欠压提示，停用2分钟可自动断电。ED300型涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。...

测厚仪主要类型

与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。...

测厚仪的种类以及特点

测厚仪的产品简介

采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。...

JIS H 8680-3:1998铝和铝合金的阳极氧化膜厚度试验方法.第3部分:用分光束显微镜的无损测量