GB/T 17722-1999由国家质检总局 CN-GB 发布于 1999-04-11,并于 1999-12-01 实施。
GB/T 17722-1999 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器,在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。
GB/T 17722-1999 金属盖层厚度的扫描电镜测量方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 17722-1999 。
本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10μm。 其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。
库仑法测厚,将被测金属镀层作为阳极,并置于电解液中进行电解,所溶解的金属量与通过的电流和溶解时间的乘积成比例,既与消耗的电量成比例。 【测试范围】适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。...
符合以下标准GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 WH92涂层测厚仪特点采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度...
对于本仪器,这一不确定度是覆盖层厚度的2%。 对于厚度小于或等于5μm的覆盖层,厚度值应取几次测量的平均值。 对于厚度小于3μm的覆盖层,不能准确测出膜厚值。 2. 基体金属的导电率 涡流测厚方法的测量值会受到基体金属导电率的影响。金属的导电率与其材料的成份及热处理有关。导电率对测量的影响随仪器的生产厂和型号的不同有明显差异。本仪器的测量受基体金属导电率的影响很小。 3....
对于本仪器,这一不确定度是覆盖层厚度的2%。 对于厚度小于或等于5μm的覆盖层,厚度值应取几次测量的平均值。 对于厚度小于3μm的覆盖层,不能准确测出膜厚值。2. 基体金属的导电率 涡流测厚方法的测量值会受到基体金属导电率的影响。金属的导电率与其材料的成份及热处理有关。导电率对测量的影响随仪器的生产厂和型号的不同有明显差异。...
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