GB/T 18210-2000
晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量

Crystalline silicon photovoltaic(PV) array-On-site measurement of I-V characteristics

GBT18210-2000, GB18210-2000


GB/T 18210-2000


标准号
GB/T 18210-2000
别名
GBT18210-2000
GB18210-2000
发布
2000年
采用标准
IEC 61829:1995 IDT
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 18210-2000
 
 
本标准描述晶体硅光伏方阵特性的现场测量及将测得的数据外推到标准测试条件(STC)或其他选定的温度和辐照度条件下的程序。 光伏方阵在实际现场条件下的I-V特性测量及其验收测试条件(ATC)下的外推值,能够提供(参见附录A和IECQ QC001002): a)功率额定值的数据; b)验证已安装的方阵功率性能是否符合设计规范;...

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