IEC/PAS 62163-2000
外观试验方法

External visual test method

IEC/PAS 62163-2000 发布历史

IEC/PAS 62163-2000由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2000-08。

IEC/PAS 62163-2000 在中国标准分类中归属于: L04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

IEC/PAS 62163-2000的历代版本如下：

• 2000年08月 IEC/PAS 62163-2000 外观试验方法

IEC/PAS 62163-2000 于 2002-04 变更为 IEC 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验。

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标准号

IEC/PAS 62163-2000

发布日期

2000年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L04

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 60749-3-2002