IEC PAS 62185:2000
热冲击试验方法

Thermal shock test method

作废

IEC PAS 62185:2000 发布历史

IEC PAS 62185:2000由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2000-08。

IEC PAS 62185:2000 在中国标准分类中归属于: L04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

IEC PAS 62185:2000 热冲击试验方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC PAS 62185:2000 。

IEC PAS 62185:2000的历代版本如下：

• 2000年 IEC PAS 62185:2000 热冲击试验方法

IEC PAS 62185:2000 于 2002-04 变更为 IEC 60749-11:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法。

标准号

IEC PAS 62185:2000

发布

2000年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC PAS 62185:2000

 

 

代替标准

IEC 60749-11:2002

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