JIS B 0633:2001
产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.表面结构评定规则和程序

Geometrical Product Specifications (GPS) -- Surface texture: Profile method -- Rules and procedures for the assessment of surface texture

标准号: JIS B 0633:2001
发布: 2001年
发布单位: 日本工业标准调查会
当前最新: JIS B 0633:2001

适用范围: この規格， JIS B 0601， JIS B 0631， ISO 13565-2及びISO 13565-3に定義された表面性状パラノータの測定値と許容限界値との比較方式について規定する。さらに，JIS B 0651に規定された触針式表面粗さ測定機によって粗さパラメータを側定するためのカットオフ値λcの標準値を規定する。備考この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。

JIS B 0633:2001相似标准

ISO 4288:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法评定表面结构的规则和方法 EN ISO 4288:1997 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.评定表面结构的规则和方法 GB/T 10610-2009 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.评定表面结构的规则和方法 NF E05-054:1998 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.表面结构评估的规则和程序 BS EN ISO 4288:1998 几何产品规范(GPS).表面结构.轮廓法:评定表面结构的规则和方法

推荐

表面粗糙度理论与标准的发展

分形几何理论zui近，国内外在表征和研究机加工表面的微观结构、接触机理和表面粗糙度等方面越来越多地使用分形几何理论这一有力的数学工具。研究表明，很多种机加工表面呈现出随机性、多尺度性和自仿射性，即具有分形的基本特征，因而使用分形几何来研究表面形貌将是合理地、有效地。...

粗糙度仪常见问题及解答

表面粗糙度仪（光洁度）的国家标准主要术语及定义本资料给出的参数符合GB/T3505-2000《产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》。25. 技术术语（1）表面粗糙度：取样长度L取样长度是用于判断和测量表面粗糙度时所规定的一段基准线长度，它在轮廓总的走向上取样。...

标准标题链接ISO 4287表面结构：轮廓法——术语、定义和表面结构参数https://www.iso.org/standard/10132.htmlISO 4288表面结构：轮廓法——表面轮廓评定规则和程序https://www.iso.org/standard/2096.htmlISO 8785表面缺陷——术语、定义和参数https://www.iso.org/standard/16210.htmlISO...

表面粗糙度测试方法和水平的发展

表面粗糙度理论的新进展表面形貌评定的核心在于特征信号的无失真提取和对使用性能的量化评定，国内外学者在这一方面做了大量工作，提出了许多分离与重构方法。随着当今微机处理技术、集成电路技术、机电一体化技术等的发展，出现了用分形法、Motif法、功能参数集法、时间序列技术分析法、zui小二乘多项式拟合法、滤波法等各种评定理论与方法，取得了显著进展.测试粗糙度的产品详见--表面粗糙度仪...

谁引用了JIS B 0633:2001 更多引用

JIS R 1683:2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

JIS B 0633:2001产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.表面结构评定规则和程序