IEC 60793 的这一部分对未涂层光纤的机械特性光纤卷曲或潜在曲率制定了统一要求。当使用无源对准熔接机或主动对准质量熔接机时，光纤卷曲已被确定为最小化光纤熔接损耗的重要参数。附录 A 和 B 中分别提出了两种方法，可用于测量未涂覆光纤中的光纤卷曲： · 方法 A：侧视显微镜； ·方法B：激光束散射。侧视显微镜程序通过确定无支撑光纤端部绕光纤轴旋转时发生的偏转量来测量未涂覆光纤的曲率半径。激光束散射程序通过激光束散射来测量光纤中的光纤卷曲。通过了解光纤的最大偏转和从光纤夹具到测量点的悬伸距离，可以从简单的圆形模型计算光纤的曲率半径，其推导在附录 C 中给出。两种方法都适用于A1、A2、A3 和 B 型光纤。方法A为参考测试方法，用于解决争议。