IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001
电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验 修改2

Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 1-4: Methods for general application; Test at low temperature; Amendment 2

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IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 发布历史

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2001-07，并于 2008-06-03 实施。

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 在中国标准分类中归属于: K13 电缆及其附件，在国际标准分类中归属于: 29.035.01 绝缘材料综合。

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验 修改2的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 。

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001的历代版本如下：

• 2001年 IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验 修改2
• 1993年 IEC 60811-1-4:1985/AMD1:1993 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法.第1部分:一般使用的方法.第4节:低温试验.修改件1
• 1970年 IEC 60811-1-4:1985/COR1:1986 勘误表1 电缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1部分：通用方法 第四节：低温试验
• 1985年 IEC 60811-1-4:1985 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验 修改2 于 2012-03-01 变更为 IEC 60811-504:2012 电缆和光缆.非金属材料试验方法.第504部分:机械试验.绝缘鞘低温抗弯试验。

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验 修改2 于 2012-03-01 变更为 IEC 60811-505:2012 电缆和光缆.非金属材料试验方法.第505部分:机械试验.绝缘鞘用低温收缩试验。

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第4节:低温试验 修改2 于 2012-03-01 变更为 IEC 60811-506:2012 电缆和光缆.非金属材料试验方法.第506部分:机械试验.绝缘鞘低温冲击试验。

这是IEC 60811-1-4-1985的修订1（电缆和光缆绝缘和护套材料的通用试验方法-第1-4部分：一般应用方法-低温试验）

标准号

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001

发布

2001年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001

 

 

代替标准

IEC 60811-504:2012 IEC 60811-505:2012 IEC 60811-506:2012

IEC 60811-1-4:1985/AMD2:2001相似标准

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