当银厚度为1-30 µm 范围内,测量值与标称值平均误差为0.6 µm, 30-60 µm 范围内平均误差为 1.3 µm,相对误差小于4%,在可接受范围以内,测厚范围可达1-60 µm。目前,奥林巴斯VANTATM手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。因此,在汽车制造、航空航天、电力等行业薄膜厚度测定具有巨大的应用前景。...
X-ray 方法: X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。...
另外,仪器对银的“K”系列X射线侦测不适合,因为金属厚度变化引起的信号变化很小。结果是厚度测量不精确,及对较小的镀层厚度变化不敏感。重复性和再现性的研究显示,不准确性达到50%或者更高。 2、源于环氧树脂板材料的高能量X射线散射,这个散射光将在浸银的光谱区域产生过多的背景噪声,进一步的降低了测量的精确性。这个背景噪声强度同样也随基材铜厚度的变化而变化。...
X-ray 方法:X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。...
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