The unbiased autoclave test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetically packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments. It is a highly accelerated test which employs cond
IEC 60749-33-2005由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2005-11。
IEC 60749-33-2005 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749-33-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器 由 IEC/PAS 62172-2000 变更而来。
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