JIS H0612-1975
硅单晶片电阻率的测定方法.四探针法

Testing methods of resistivity for single crystal silicon wafers with four point probe

JIS H0612-1975 发布历史

JIS H0612-1975由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 1975-03-01，并于 1975-03-01 实施。

JIS H0612-1975 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法。

JIS H0612-1975的历代版本如下：

• 1975年03月01日 JIS H0612-1975 硅单晶片电阻率的测定方法.四探针法

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标准号

JIS H0612-1975

发布日期

1975年03月01日

实施日期

1975年03月01日

废止日期

无

中国标准分类号

H21

发布单位

JP-JISC