DIN EN 62132-1-2006
集成电路.测定150kHz～1GHz电磁辐射干扰.第1部分:一般条件和定义

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions (IEC 62132-1:2006); German version EN 62132-1:2006

DIN EN 62132-1-2006 发布历史

This part of IEC 62132 provides general information and definitions on measurement on conducted and radiated electromagnetic immunity of integrated circuits (ICs) to conducted and radiated disturbances. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up, as well as the test procedures and content of the test reports.

DIN EN 62132-1-2006由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2006-06，并于 2006-06-01 实施。

DIN EN 62132-1-2006 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学,33.100.20 抗扰度。

DIN EN 62132-1-2006 发布之时，引用了标准

• IEC 61000-4-3 IEC 61000-4-3-2020
• IEC 61000-4-6 IEC 61000-4-6-2013 cor1-2015

DIN EN 62132-1-2006的历代版本如下：

• 2006年06月 DIN EN 62132-1-2006 集成电路.测定150kHz～1GHz电磁辐射干扰.第1部分:一般条件和定义
• 2016年09月 DIN EN 62132-1-2016 集成电路.电磁辐射干扰测定.第1部分:一般条件和定义(IEC 62132-1-2015).德文版本EN 62132-1-2016

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标准号

DIN EN 62132-1-2006

发布日期

2006年06月

实施日期

2006年06月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200;33.100.20

发布单位

DE-DIN

引用标准

IEC 61000-4-3 IEC 61000-4-6

代替标准

DIN EN 62132-1-2016

被代替标准

DIN IEC 62132-1-2001

适用范围

This part of IEC 62132 provides general information and definitions on measurement on conducted and radiated electromagnetic immunity of integrated circuits (ICs) to conducted and radiated disturbances. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up, as well as the test procedures and content of the test reports.

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