GJB/J 5463-2005
光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程

Verification regulation for measurement equipment of optical film refractive index and thickness

GJB/J 5463-2005 发布历史

本检定规程规定了光谱范围 250nm～1700nm 椭偏法光学薄膜折射率和厚度测试仪（以下简称测试仪）的检定技术要求、检定项目、检定条件、检定方法、检定结果的处理和检定周期。 本检定规程适用于新制造、使用中与修理后的测试仪的检定。

GJB/J 5463-2005由国家军用标准-国防科工委 CN-GJB-K 发布于 2005-12-12，并于 2006-05-01 实施。

GJB/J 5463-2005 在中国标准分类中归属于: A60 光学计量。

GJB/J 5463-2005的历代版本如下：

• 2005年12月12日 GJB/J 5463-2005 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程

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标准号

GJB/J 5463-2005

发布日期

2005年12月12日

实施日期

2006年05月01日

废止日期

无

中国标准分类号

A60

发布单位

CN-GJB-K

适用范围

本检定规程规定了光谱范围 250nm～1700nm 椭偏法光学薄膜折射率和厚度测试仪（以下简称测试仪）的检定技术要求、检定项目、检定条件、检定方法、检定结果的处理和检定周期。 本检定规程适用于新制造、使用中与修理后的测试仪的检定。