BS EN 62132-1:2006
集成电路.150 kHz～1 GHz电磁抗扰性的测量.通用条件和定义

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - General conditions and definitions

被代替

BS EN 62132-1:2006 发布历史

BS EN 62132-1:2006由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2006-06-30，并于 2006-06-30 实施。

BS EN 62132-1:2006 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学,33.100.20 抗扰度。

BS EN 62132-1:2006 发布之时，引用了标准

• IEC 61000-4-3 电磁兼容性（EMC）.第4-3部分:试验和测量技术.辐射、射频、电磁场抗扰度试验*， 2020-09-08 更新
• IEC 61000-4-6 电磁兼容性 (EMC) 第 4-6 部分：测试和测量技术 对射频场引起的传导干扰的抗扰度*， 2023-06-06 更新

* 在 BS EN 62132-1:2006 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

BS EN 62132-1:2006的历代版本如下：

• 2016年 BS EN 62132-1:2016 集成电路.电磁抗扰性的测量.通用条件和定义
• 2006年 BS EN 62132-1:2006 集成电路.150 kHz～1 GHz电磁抗扰性的测量.通用条件和定义

IEC 62132 的这一部分提供了有关测量集成电路 (IC) 传导和辐射干扰的传导和辐射电磁抗扰度的一般信息和定义。 它还提供了测量条件、测试设备和设置以及测试程序和测试报告内容的描述。 附件 A 中包含测试方法比较表，以帮助选择适当的测量方法。 该标准描述了在统一测试环境中获得 IC 抗扰度定量测量所需的一般条件。 描述了预计会影响测试结果的关键参数。 与此标准的偏差在单独的测试报告中明确注明。 测量结果可用于比较或其他目的。 对注入电压和电流的测量，以及在受控条件下测试的 IC 的响应，可得出有关 IC 在给定应用中对传导和辐射 RF 干扰的潜在抗扰度的信息。

标准号

BS EN 62132-1:2006

发布

2006年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 62132-1:2016

当前最新

BS EN 62132-1:2016

 

 

引用标准

IEC 61000-4-3 IEC 61000-4-6

被代替标准

01/204134 DC-2001

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