IEC 60749-7:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
2011-06
- 标准号
- IEC 60749-7:2002
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60749-7/COR1:2003
- 当前最新
- IEC 60749-7:2011
- 适用范围
- The purpose of this part of IEC 60749 is to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. It is applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. It can be destructive (Methods 1 and 2) or non-destructive (Method 3).
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