IEC 60749-3:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination


哪些标准引用了IEC 60749-3:2002

 

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标准号
IEC 60749-3:2002
发布
2002年
中文版
GB/T 4937.3-2012 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-3:2002/COR1:2003
当前最新
IEC 60749-3:2017
 
 
被代替标准
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