IEC 60747-5-3 AMD 1-2002
半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测量方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices; Measuring methods; Amendment 1

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 发布历史

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2002-03。

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 在中国标准分类中归属于: L54 半导体光敏器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 发布之时，引用了标准

• IEC 60747-5-3-1997 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002的历代版本如下：

• 2002年03月 IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测量方法

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 由 IEC 60747-5-1992 变更而来。

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 于 2007-09 变更为 IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器。

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 于 2013-05-01 变更为 IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013 半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器。

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标准号

IEC 60747-5-3 AMD 1-2002

发布日期

2002年03月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L54

国际标准分类号

31.260

发布单位

IX-IEC

引用标准

IEC 60747-5-3-1997

代替标准

IEC 60747-5-5-2007 IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013 IEC 60747-5-7-2016(部分代替) IEC 60747-5-6-2016(部分代替)

被代替标准

IEC 47E/210/FDIS-2001 IEC 60747-5-1992 IEC 60747-5 AMD 1-1994 IEC 60747-5 AMD 2-1995