IEC 60747-5-2 AMD 1-2002
半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电子器件.基础额定值及特性

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-2: Optoelectronic devices; Essential ratings and characteristics; Amendment 2

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 发布历史

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2002-03。

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 在中国标准分类中归属于: L54 半导体光敏器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 发布之时，引用了标准

• IEC 60112-1979 固体绝缘材料在潮湿条件下相对泄痕指数和耐泄痕指数的推荐测定方法
• IEC 60216-1-1990 电绝缘材料耐热性能的测定导则.第1部分:老化过程和试验结果评定的一般导则
• IEC 60216-2-1990 Guide pour la determination des proprietes d'endurance thermique de materiaux isolants electriques Partie 2: Choix de criteres d'essai (Edition 3.0)
• IEC 60672-2-1980 陶瓷和玻璃绝缘材料规范.第2部分:试验方法
• IEC 60747-5-2-1997 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002的历代版本如下：

• 2002年03月 IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电子器件.基础额定值及特性

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 由 IEC 60747-5-1992 变更而来。

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 于 2007-09 变更为 IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器。

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 于 2013-05-01 变更为 IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013 半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器。

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标准号

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002

发布日期

2002年03月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L54

国际标准分类号

31.260

发布单位

国际电工委员会

引用标准

IEC 60112-1979 IEC 60216-1-1990 IEC 60216-2-1990 IEC 60672-2-1980 IEC 60747-5-2-1997

代替标准

IEC 60747-5-5-2007 IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013 IEC 60747-5-7-2016(部分代替) IEC 60747-5-6-2016(部分代替)

被代替标准

IEC 47E/209/FDIS-2001 IEC 60747-5-1992 IEC 60747-5 AMD 1-1994 IEC 60747-5 AMD 2-1995

IEC 60747-5-2 AMD 1-2002相似标准

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