BS EN 60749-27:2006由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2006-09-29,并于 2006-09-29 实施。
BS EN 60749-27:2006 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序,用于根据半导体器件因暴露于定义的机器模型 (MM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来对半导体器件进行测试和分类。 它可以用作人体模型ESD测试方法的替代测试方法。 目的是提供可靠、可重复的 ESD 测试结果,以便进行准确的分类。 该测试方法适用于所有半导体器件,并被归类为破坏性测试。 半导体器件的 ESD 测试选自该测试方法、人体模型(HBM – 参见 IEC 60749-26)或 IEC 60749 系列中的其他测试方法。 MM 和 HBM 测试方法产生相似但不相同的结果。 除非另有说明,否则选择 HBM 测试方法。
-2006 可靠性试验.恒定失效率和恒定失效强度的符合性试验BS EN 60749-30-2005+A1-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理BS EN 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试之前非气密表面安装器件的预调试BS EN 62309-2004 含可再用部件的产品的可靠性.功能和试验的要求BS EN...
放电模型人体放电模型(Human-Body Model ,HBM):是指因人在地上走动摩擦或其他因素在人体上已经累积了静电,当人再去碰触IC时,会产生放电。机器放电模型(Machine Model ,MM):是指机器(例如机械手臂)本身积累了静电,当它接触IC时,会产生放电。...
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