BS EN 60749-26:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

被代替

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标准号

BS EN 60749-26:2006

发布

2006年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-26:2014

当前最新

BS EN 60749-26:2014

 

 

适用范围

IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来测试和分类半导体器件。 目标是提供可靠、可重复的 HBM ESD 测试结果，以便进行准确的分类。 该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。 半导体器件的 ESD 测试选自本测试方法、机器模型 (MM) 测试方法（参见 IEC 60749-27）或 IEC 60749 系列中的其他 ESD 测试方法。 HBM 和 MM 测试方法产生相似但不相同的结果；除非另有说明，均选用本测试方法。

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