IEC 60749-13:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

被代替

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标准号

IEC 60749-13:2002

发布

2002年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-13:2002/COR1:2003

当前最新

IEC 60749-13:2018

 

 

被代替标准

IEC 47/1537A/CDV:2000 IEC 47/1599/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62183:2000

IEC 60749 的这一部分描述了确定半导体器件耐腐蚀性的盐气氛测试。这是一项加速测试，模拟恶劣的海岸大气对所有暴露表面的影响。它仅适用于指定用于海洋环境的设备。盐气氛试验被认为是破坏性的。一般来说，该盐气氛试验符合 IEC 60068-2-11，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。

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