This part of IEC 60749 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive In general, this salt atmosphere test is in conformity with IEC 60068-2-11 but, due to specific requirements of semiconductors, the clauses of this standard apply.
IEC 60749-13-2002由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2002-04。
IEC 60749-13-2002 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749-13-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境 由 IEC 60749-1996 变更而来。
IEC 60749-13-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境 由 IEC 60749 AMD 1-2000 变更而来。
IEC 60749-13-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境 由 IEC 60749 AMD 2-2001 变更而来。
IEC 60749-13-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境 由 IEC 60749 Edition 2.2-2002 变更而来。
IEC 60749-13-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐性环境 由 IEC/PAS 62183-2000 变更而来。
非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 IEC 60749-13-2002 前三页,或者稍后再访问。
点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号