GB/T 17574.9-2006
半导体器件.集成电路.第2-9部分:数字集成电路.紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
Semiconductor devices.Integrated circuits.Part 2-9:Digital integrated circuits.Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
GB/T 17574.9-2006 发布历史
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
GB/T 17574.9-2006由国家质检总局 CN-GB 发布于 2006-12-05，并于 2007-05-01 实施。
GB/T 17574.9-2006 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
GB/T 17574.9-2006 发布之时，引用了标准
- GB/T 4728.12-1996 电气简图用图形符号 第12部分:二进制逻辑元件
- GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
- IEC 60068-2-17-1978 基本环境试验规程.第2部分:试验.第17节:试验Q:密封
- IEC 60134-1961 电子管和类似半导体器件的额定值制
GB/T 17574.9-2006的历代版本如下：
- 2006年12月05日 GB/T 17574.9-2006 半导体器件.集成电路.第2-9部分:数字集成电路.紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
- 标准号
- GB/T 17574.9-2006
- 发布日期
- 2006年12月05日
- 实施日期
- 2007年05月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 4728.12-1996 GB/T 4937-1995 IEC 60068-2-17-1978 IEC 60134-1961 IEC 60747-10/QC 700000-1991 IEC 60748-11/QC 790100-1990
- 适用范围
- IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。