SJ 2658.5-1986由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 。
SJ 2658.5-1986 在中国标准分类中归属于: L53 半导体发光器件,在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。
SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法 于 2015-10-10 变更为 SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻。
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