EJ/T 1204.1-2006
电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分:忽略样品处理影响的计数测量
Determination of the detection limit and decision threshold for ionizing radiation measurements Part 1: Counting measurements, neglecting the influence of sample treatment
EJ/T 1204.1-2006 发布历史
本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值，用以评估忽略样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。 本部分适用于忽略样品处理影响的计数测量。
EJ/T 1204.1-2006由行业标准-核工业 CN-EJ 发布于 2006-12-15，并于 2007-05-01 实施。
EJ/T 1204.1-2006 在中国标准分类中归属于: Z33 放射性物质与放射强度分析测试方法，在国际标准分类中归属于: 27.120 核能工程。
EJ/T 1204.1-2006 发布之时，引用了标准
- GB/T 3358.1 统计学词汇及符号 第1部分:一般统计术语与用于概率的术语*， 2009-10-15 更新
- GB/T 3358.2 统计学词汇及符号.第2部分:应用统计*， 2009-10-15 更新
- GB/T 3358.3 统计学词汇及符号 第3部分:实验设计*， 2009-10-15 更新
* 在 EJ/T 1204.1-2006 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
EJ/T 1204.1-2006的历代版本如下：
- 2006年12月15日 EJ/T 1204.1-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分:忽略样品处理影响的计数测量
- 标准号
- EJ/T 1204.1-2006
- 发布日期
- 2006年12月15日
- 实施日期
- 2007年05月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- Z33
- 国际标准分类号
- 27.120
- 发布单位
- CN-EJ
- 引用标准
- GB/T 3358.1 GB/T 3358.2 GB/T 3358.3
- 适用范围
- 本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值，用以评估忽略样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。 本部分适用于忽略样品处理影响的计数测量。