QB/T 1135-2006
首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

Jewellery Measurement of gold and silver coating tickness X-ray fluorescence spectrometric methods

QBT1135-2006, QB1135-2006


QB/T 1135-2006 发布历史

QB/T 1135-2006由行业标准-轻工 CN-QB 发布于 2006-08-19,并于 2006-12-01 实施。

QB/T 1135-2006 在中国标准分类中归属于: Y88 工艺美术品,在国际标准分类中归属于: 39.060 珠宝。

QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法的最新版本是哪一版?

最新版本是 QB/T 1135-2006

QB/T 1135-2006 发布之时,引用了标准

  • QB 1131 首饰.金覆盖层厚度的规定
  • QB 1132 首饰.银覆盖层厚度的规定

QB/T 1135-2006的历代版本如下:

  • 2006年 QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
  • 1991年 QB/T 1135-1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法

 

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。 本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。

QB/T 1135-2006

标准号
QB/T 1135-2006
别名
QBT1135-2006
QB1135-2006
发布
2006年
发布单位
行业标准-轻工
当前最新
QB/T 1135-2006
 
 
引用标准
QB 1131 QB 1132
被代替标准
QB/T 1135-1991

QB/T 1135-2006相似标准


推荐

两项原子光谱测厚标准征求意见

该两项测原子光谱测厚标准分别是《首饰 覆盖层厚度测定 光谱法》(QB/T 1133-2016)和《首饰 覆盖层厚度测定 光谱法》(QB/T 1134-2016),分别替代QB/T 1133-1991和QB/T 1134-1991。  ...

岛津仪器如何鉴定你珠宝首饰

图2 发明专利证书方案优势该方法具有专用算法修正镀层对基体组成元素影响、含镀层贵金属直接测试(无需打磨破坏)、一次分析可以得到镀层厚度和基材元素成分可靠结果、分析速度快、分析成本低优点。 图3 不同方法分析误差比较(数据来源于本公司)案例分享贵金属首饰成分分析GB/T 18043-2013《首饰贵金属含量测定 X射线荧光光谱法》是贵金属首饰成分分析标准依据。...

X射线荧光光谱仪MIDEX对贵金属和珠宝检测应用

X射线荧光光谱法(XRF)工作原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析出元素成份。XRF实现无损检测,即时分析,零耗材。   贵金属分析仪为质量监督检测机构提供全面珠宝首饰解决方案,满足质检检测单位和实验部门需要,向用户推荐MIDEX贵金属分析仪。...

以钇或铟为内标采用ICP光谱法测定金饰品中银元素含量

将此方法与X荧光光谱法检测比较,其目的在于检验此方法可以检验除以外其他各元素准确性,同时通过火试检测金元素结果,来判断此方法比X射线荧光光谱法是否更加具备可靠性,分析结果表明此方法检测结果精密度和准确性要高,同时不会受表层面镀层影响。此方法消耗样品极少,但是属于破坏性检测,对于成品首饰无法再恢复,对于原材料等则影响不大。...


QB/T 1135-2006 中可能用到的仪器设备


谁引用了QB/T 1135-2006 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号