QJ 1317A-2005
电子元器件失效分类及代码

Electronic component failure classification and code


QJ 1317A-2005 中，可能用到以下仪器设备

 

sukhamburg光学元件

sukhamburg光学元件

海洋光学亚洲公司

 

超大尺寸CMOS传感器

超大尺寸CMOS传感器

上海昊量光电设备有限公司

 

Al2O3+Si薄膜(SOS)

Al2O3+Si薄膜(SOS)

合肥科晶材料技术有限公司/合肥科晶/kj group

 

QJ 1317A-2005
标准号
QJ 1317A-2005
发布单位
行业标准-航天
 
 
被代替标准
QJ 1317-1987

QJ 1317A-2005相似标准

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QJ 1317A-2005 中可能用到的仪器设备

电容水分测定仪 光学成像-CMOS相机 其它光学测量仪 表面阻抗 电磁/电涡流测厚仪 其它物性测试仪器 其它行业专用

谁引用了QJ 1317A-2005 更多引用

QJ 1556B-2008 元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定


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