GJB 5914-2006
各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法
Methodsof destructive physical analysis for military semiconductor devices of all kinds of quality class
GJB 5914-2006 中，可能用到以下试剂
- 标准号
- GJB 5914-2006
- 发布日期
- 2006年12月15日
- 实施日期
- 2007年05月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 发布单位
- CN-GJB-K
- 引用标准
- GJB 128A-1997 GJB 548A-1996 GJB 4027A-2006 GJB 4152-2001 GJB/Z 299B-1998
- 适用范围
- 本标准规定了GJB/Z 299B-1998 《电子设备可靠性预计手册》中所包括的各种军用质量等级半导体器件破坏性物理分析（DPA）方法，包括DPA程序的一般要求以及不同质量等级半导体器件DPA试验与分析的通用方法和缺陷判据。 本标准适用于有DPA要求的各种军用质量等级的半导体器件。