GEIA SSB-1.004-1999
失败率测试 附件SSB-1 军事,航空航天和其他方面用塑料包裹微型电路和半导体指南

Failure Rate Estimating Annex to SSB-1, Guidelines for Using of Plastic Encapsulated Microcircuits and Semiconductors in Military, Aerospace and Other Rugged Applications

作废

GEIA SSB-1.004-1999 发布历史

GEIA SSB-1.004-1999由政府电子与信息技术协会（US-GEIA改名为US-TECHAMERICA) US-GEIA 发布于 1999。

GEIA SSB-1.004-1999 在中国标准分类中归属于: L53 半导体发光器件，在国际标准分类中归属于: 29.120.20 连接装置。

Failure-Mechanism-Driven Reliability Monitoring draws upon the concepts and implementation of line controls, process stability and effective monitoring programs in lieu of qualifying a product based solely on a fixed list of tests. A supplier must ident

标准号

GEIA SSB-1.004-1999

发布

1999年

发布单位

政府电子与信息技术协会（US-GEIA改名为US-TECHAMERICA)

 

 

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