JEDEC JESD22-B108A-2003
表面装贴半导体仪器的共面性测试

Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices


 

 

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标准号
JEDEC JESD22-B108A-2003
发布
2003年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
该测试的目的是测量表面贴装半导体器件的端子(引线或焊球)共面性的偏差。

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