JEDEC JESD35-A-2001由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 2001-04-01。
JEDEC JESD35-A-2001 在中国标准分类中归属于: L86 通用电子测量仪器设备及系统,在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。
JEDEC JESD35-A-2001 薄电介质的Wafer-Level测试程序的最新版本是哪一版?
JEDEC JESD35-A-2001已经是当前最新版本。
MOS 器件和电路的薄电介质完整性是一个重要的可靠性问题。从历史上看,薄氧化物的可靠性是由氧化物缺陷驱动的。一般来说,本征氧化物寿命比使用要求长得多,但缺陷会显着缩短氧化物寿命。开发本文描述的过程是为了估计薄氧化物的完整性,并作为推动薄氧化物工艺不断改进的工具。
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号