This standard is applicable to life testing of lead-mounted semiconductor devices intended for applications in a Natural-Air-Cooled environment where most (> 90%) of the power dissipation is obtained by convection and radiation losses from the body of the device.
JEDEC EIA-323-1966由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 1966-03-01。
JEDEC EIA-323-1966 在中国标准分类中归属于: L43 半导体整流器件,在国际标准分类中归属于: 31.080.20 晶体闸流管。
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