JEDEC EIA-323-1966
半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元命名

Air-Convection-Cooled Life Test Environment for Lead-Mounted Semiconductor Devices


JEDEC EIA-323-1966 发布历史

This standard is applicable to life testing of lead-mounted semiconductor devices intended for applications in a Natural-Air-Cooled environment where most (> 90%) of the power dissipation is obtained by convection and radiation losses from the body of the device.

JEDEC EIA-323-1966由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 1966-03-01。

JEDEC EIA-323-1966 在中国标准分类中归属于: L43 半导体整流器件,在国际标准分类中归属于: 31.080.20 晶体闸流管。

JEDEC EIA-323-1966的历代版本如下:

  • 1966年03月01日 JEDEC EIA-323-1966 半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元命名

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 JEDEC EIA-323-1966 前三页,或者稍后再访问。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 



标准号
JEDEC EIA-323-1966
发布日期
1966年03月01日
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L43
国际标准分类号
31.080.20
发布单位
US-JEDEC
适用范围
This standard is applicable to life testing of lead-mounted semiconductor devices intended for applications in a Natural-Air-Cooled environment where most (> 90%) of the power dissipation is obtained by convection and radiation losses from the body of the device.




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号