JEDEC JESD89A-2006
阿尔法粒子和陆地宇宙光的测量和传送 导致在半导体设备中的轻微错误

Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices


标准号
JEDEC JESD89A-2006
发布
2006年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
软错误是由高能离子撞击引起的非破坏性功能错误。软错误是单事件效应 (SEE) 的子集，包括单事件翻转 (SEU)、多位翻转 (MBU)、单事件功能中断 (SEFI)、单事件瞬态 (SET)，如果被锁存，成为 SEU 和单事件闩锁 (SEL)，其中 CMOS 阱中寄生双极作用的形成会导致电源和接地之间形成低阻抗路径，从而产生高电流条件（SEL 也可能导致潜在错误和硬错误）。

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