IEC 60747-5-5-2007
半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers

IEC 60747-5-5-2007 发布历史

This part of IEC 60747 gives the terminology，essential ratings，cha racteristics，safety tests as well as the measuring methods for photocouplers(or optocouplers)． NOTE The word“optocoupler”can also be used instead of“photocoupler”

IEC 60747-5-5-2007由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2007-09。

IEC 60747-5-5-2007 在中国标准分类中归属于: L50 光电子器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

IEC 60747-5-5-2007 发布之时，引用了标准

• IEC 60065-2001 音频、视频及类似电子设备 安全要求
• IEC 60068-1-1988 环境试验 第1部分:总则和指南
• IEC 60068-2-1-2007 环境试验.第2-1部分:试验.试验A:低温
• IEC 60068-2-78-2001 环境试验 第2-78部分：试验 试验箱：湿热、稳态
• IEC 60068-2-6 环境试验.第2-6部分:试验.试验Fc:振动(正弦波)*， 2007-12-01 更新
• IEC 60068-2-14-1984 基本环境试验规程 第2-14部分:试验 试验N:温度变化
• IEC 60068-2-17-1994 基本环境试验规程 第2-17部分:试验 试验Q:密封
• IEC 60068-2-30-2005 环境试验.第2-30部分:试验.试验Db:循环湿热试验(12h+12h循环)
• IEC 60068-2-58-2005 环境试验.第2-58部分:试验.试验Td:表面安装元器件(SMD)用可焊性、耐金属化溶融和耐焊接热的试验方法
• IEC 60112-2003 固体绝缘材料的比较起痕指数和耐泄痕指数的测定方法
• IEC 60068-2-2-2007 环境测试.第2-2部分:试验.试验B:干热
• IEC 60216-1-2001 电气绝缘材料 耐热性 第1部分：老化规程和试验结果的评价
• IEC 60216-2-2005 电气绝缘材料.耐热性.第2部分:电气绝缘材料耐热性测定.试验标准的选择

* 在 IEC 60747-5-5-2007 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

IEC 60747-5-5-2007的历代版本如下：

• 2007年09月 IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器
• 2013年05月13日 IEC 60747-5-5-2007/AMD1-2013 修改件1.半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电子器件.光电耦合器
• 2020年07月20日 IEC 60747-5-5-2020 半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-1-1997 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-1 AMD 1-2001 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-1 AMD 2-2002 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-1 Edition 1.2-2002 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-2-1997 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-3-1997 变更而来。

IEC 60747-5-5-2007 半导体装置.分立装置.第5-5部分:光电子装置.光电耦合器 由 IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 变更而来。

标准号

IEC 60747-5-5-2007

发布日期

2007年09月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L50

国际标准分类号

31.260

发布单位

IX-IEC

引用标准

IEC 60065-2001 IEC 60068-1-1988 IEC 60068-2-1-2007 IEC 60068-2-78-2001 IEC 60068-2-6 IEC 60068-2-14-1984 IEC 60068-2-17-1994 IEC 60068-2-27 IEC 60068-2-30-2005 IEC 60068-2-58-2005 IEC 60112-2003 IEC 60068-2-2-2007 IEC 60216-1-2001 IEC 60216-2-2005 IEC 606

被代替标准

IEC 47E/332/FDIS-2007 IEC 60747-5-1-1997 IEC 60747-5-1 AMD 1-2001 IEC 60747-5-1 AMD 2-2002 IEC 60747-5-1 Edition 1.2-2002 IEC 60747-5-2-1997 IEC 60747-5-2 AMD 1-2002 IEC 60747-5-3-1997 IEC 60747-5-3 AMD 1-2002

适用范围

This part of IEC 60747 gives the terminology，essential ratings，cha racteristics，safety tests as well as the measuring methods for photocouplers(or optocouplers)． NOTE The word“optocoupler”can also be used instead of“photocoupler”

IEC 60747-5-5-2007系列标准

谁引用了IEC 60747-5-5-2007 更多引用