IEC 62528:2007
嵌入式基于芯片的集成电路用标准可试性方法
Standard testability method for embedded core-based integrated circuits
- 标准号
- IEC 62528:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62528:2007
- 引用标准
- IEEE P1450.6 IEEE Std 1149.1
- 被代替标准
- IEC 93/250/FDIS:2007
- 适用范围
- IEEE Std 1500 为包含嵌入式不可合并核心的集成电路 (IC) 开发了一种标准的可测试性设计方法。该方法独立于 IC 或其各个嵌入式内核的底层功能。该方法为此类 IC 的测试提出了必要的要求，同时允许来自不同来源的内核轻松互操作。
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