YS/T 666-2008
工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Chemical analysis methods of gallium for industrial use.Determination of impurity elements.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
YST666-2008, YS666-2008
YS/T 666-2008 发布历史
YS/T 666-2008由行业标准-有色金属 CN-YS 发布于 2008-03-12，并于 2008-09-01 实施。
YS/T 666-2008 在中国标准分类中归属于: H12 轻金属及其合金分析方法，在国际标准分类中归属于: 77.120.99 其他有色金属及其合金。
YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法的最新版本是哪一版？
最新版本是 YS/T 666-2008 。
YS/T 666-2008的历代版本如下：
- 2008年 YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。 本标准适用于工业镓[99.9%≤ω（%）≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。
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