CNS 12865-10-1992
数字微电子检验法(功能测试)

Method of Test for Digital Microelectronics `6rFunctional Testing`6s

说明：

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
  • 表示标准的节点，可以拖动；
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  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

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标准号
CNS 12865-10-1992
发布日期
1992年11月20日
实施日期
1992年11月20日
废止日期
无
国际标准分类号
31.200;19.080
发布单位
CN-CNS
适用范围
本标准规定电路性能确保之方法，系有关验证所指定的功能，以及确保所有逻辑组件路径不断路，不保持在高位准或不保持在低位准所必须的测试需求。本检验法适于数字微电子组件，如 TTL，DTL，RTL，ECL 与 MOS。


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