ISO 10110-7:2008
光学和光子学.光学元件和设备制图的准备工作.第7部分:表面缺陷公差
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 7: Surface imperfection tolerances
- 标准号
- ISO 10110-7:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 10110-7:2017
- 当前最新
- ISO 10110-7:2017
- 引用标准
- ISO 10110-1:2006 ISO 14997:2003
- 适用范围
- ISO 10110 规定了用于制造和检验的技术图纸中单个光学元件和光学组件的设计和功能要求的表示。 ISO 10110 的这一部分规定了单个光学元件和光学组件的有效孔径内表面缺陷的可接受水平的指示。 这些包括局部表面缺陷、边缘缺口和长划痕。 应当注意的是，指定局部缺陷的可接受水平时考虑了功能效果（影响图像形成或光学元件的耐用性）以及装饰（外观）效果。 ISO 10110 的这一部分适用于成品光学元件的透射和反射表面（无论是否镀膜）以及光学组件。 它认识到可以根据部件或光学组件中受缺陷影响的区域来指定允许的缺陷。
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