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3定位更小的缺陷传统UT(左)的数据点密度与DLA探头(右)的对比。DLA探头中使用的更小的元件有助于检查员实施高数据点密度检查,其速度比使用传统双晶UT探头更快。更高的点密度使用户能够降低遗漏小缺陷的概率。4更好的近表面分辨率 发射阵列(左)独立于接收阵列(右),从而减少了界面回波,能够实施更好的近表面探测。DLA探头使用了用于增加近表面分辨率的一发一收技术。...
使用双晶阵列探头探测和定义更小的高温氢致(HTHA)孔隙奥林巴斯的双晶线性阵列(DLA)探头具有高频性能,可以提供更高的分辨率,从而有助于提高微小缺陷的检出率,如:高温氢致(HTHA)缺陷。双晶线性阵列(DLA)探头使用一发一收技术。这种探头的两个晶片阵列分开放置,并具有声学隔离特性,一个晶片阵列用于发射声束,另一个用于接收信号。...
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