DIN EN 61967-1-2003
集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 (IEC 61967-1:2002); 德文版本 EN 61967-1:2002

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions (IEC 61967-1:2002); German version EN 61967-1:2002

DIN EN 61967-1-2003 发布历史

This part of IEC 61967 provides general information and definitions on measurement of conducted and radiated electromagnetic disturbances from integrated circuits. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up as well as the test procedures and content of the test reprots. A test method comparison table is included as annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s).#,,#

DIN EN 61967-1-2003由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2003-01，并于 2003-01-01 实施。

DIN EN 61967-1-2003 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 01.040.31 电子学 (词汇),01.040.33 电信、音频和视频技术 (词汇),31.200 集成电路、微电子学,33.100.10 发射。

DIN EN 61967-1-2003的历代版本如下：

• 2003年01月 DIN EN 61967-1-2003 集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 (IEC 61967-1:2002); 德文版本 EN 61967-1:2002

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标准号

DIN EN 61967-1-2003

发布日期

2003年01月

实施日期

2003年01月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

01.040.31;01.040.33;31.200;33.100.10

发布单位

DE-DIN

被代替标准

DIN EN 61967-1-2000

适用范围

This part of IEC 61967 provides general information and definitions on measurement of conducted and radiated electromagnetic disturbances from integrated circuits. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up as well as the test procedures and content of the test reprots. A test method comparison table is included as annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s).#,,#

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