DLA SMD-5962-94672 REV A-2007
数字的先进双极互补金属氧化物半导体,18-BIT母线接口和双稳态多谐振荡器转化输出晶体管兼容输入硅单片电路线型微电路

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED BIPOLAR CMOS, SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVER, THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON

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标准号

DLA SMD-5962-94672 REV A-2007

发布

2007年

发布单位

美国国防后勤局

 

 

适用范围

This drawing documents two product assurance class levels consisting of high reliability (device classes Q and M)and space application (device class V). A choice of case outlines and lead finishes are available and are reflected in the Part or Identifying Number (PIN). When available, a choice of Radiation Hardness Assurance (RHA) levels is reflected in the PIN.

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