IEC 60749-5:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
2017-04
哪些标准引用了IEC 60749-5:2003
GB/T 39392-2020 家用电器专用智能功率模块技术规范BS IEC 62830-3:2017 半导体器件. 收集和产生能量的半导体器件. 第3部分: 基于振动的电磁能量收集IEC 62830-1:2017 半导体器件 用于能量采集和发电的半导体器件 第1部分：基于振动的压电能量采集IEC 60749-4:2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验IEC 62830-3:2017 半导体器件. 收集和产生能量的半导体器件. 第3部分: 基于振动的电磁能量收集BS PD IEC/TS 62686-1:2015 航空电子设备的过程管理 航空航天、国防和高性能（ADHP）应用的电子元件 高可靠性集成电路和分立半导体的一般要求DIN EN 60747-15:2012 分立半导体器件.第15部分:独立电力半导体器件(IEC 60747-15-2010).德文版本EN 60747-15-2012IEC 60747-15:2010 半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件
- 标准号
- IEC 60749-5:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60749-5:2017
- 当前最新
- IEC 60749-5:2023 PRV
- 被代替标准
- IEC 47/1661/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62161:2000
- 提供稳态温度和湿度偏置寿命测试，用于评估非气密封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。
IEC 60749-5:2003相似标准
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