SIS SS IEC 333:1986
核检测仪表．半导体带电微粒探测器测试程序
Nuclear instrumentation - Testprocedures for semiconductor chargedparticle detectors
SIS SS IEC 333:1986 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- SIS SS IEC 333:1986
- 发布
- 1986年
- 发布单位
- SE-SIS
- 当前最新
- SIS SS IEC 333:1986
- 本标准适用于带电粒子探测和高分辨率光谱分析用的半导体辐射探测器。所描述的测量技术已被选择为可供半导体带电粒子探测器的所有制造商和用户使用。一些高级技术未包括在内，因为这些方法过于复杂或需要可能不易获得的设备（例如粒子加速器）。 IEC 出版物 340：电离辐射半导体探测器的放大器和前置放大器的测试程序中描述了相关放大器和前置放大器的测试程序。