GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods

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标准号

GB/T 15651.3-2003

发布日期

2003年11月24日

实施日期

2004年08月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L50

国际标准分类号

31.260

发布单位

国家质检总局

适用范围

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。

GB/T 15651.3-2003系列标准

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