GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分;第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

Semiconductor Devices Integrated Circuits Part11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)


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GB/T 19403.1-2003



标准号
GB/T 19403.1-2003
发布日期
2003年11月24日
实施日期
2004年08月01日
废止日期
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
发布单位
CN-GB
适用范围
进行内部目检的目的是检验集成电路的内部材料、结构和工艺,验证与适用的规范要求的一致性。 通常应在封帽或密封之前对器件进行100%内部目检。以发现可能导致器件在正常使用时失效的内部缺陷并剔除相应器件。本试验也可按抽样方式在封帽之前使用,以确定承制方对半导体器件质量控制和操作程序的有效性。

GB/T 19403.1-2003系列标准





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