IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003
半导体器件.机械和环境试验方法.第1部分:总则

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003 发布历史

This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General; Corrigendum 1.

IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2003-08。

IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003的历代版本如下：

• 2003年08月 IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和环境试验方法.第1部分:总则

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标准号

IEC 60749-1 Corrigendum 1-2003

发布日期

2003年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

适用范围

This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General; Corrigendum 1.