IEC 60749-3 Corrigendum 1-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

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标准号

IEC 60749-3 Corrigendum 1-2003

发布日期

2003年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

适用范围

This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-3-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 3:External visual examination)