ASTM E1162-06
报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

被代替

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 ASTM E1162-06 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

ASTM E1162-06

发布

2006年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1162-11

当前最新

ASTM E1162-11(2019)

 

 

这种做法用于报告“方法”第 6 节中指定的实验条件。或“实验性”其他出版物的部分（受编辑限制）。该报告将包括每个数据集的具体条件，特别是出版物中不同溅射深度剖面数据集的任何参数是否发生变化。例如，表格的脚注或图形标题将用于指定不同的条件。1.1 这种做法涵盖了描述和报告仪器、样本参数、实验条件和数据简化程序所需的信息。 SIMS 溅射深度剖面可以使用各种主束...

ASTM E1162-06相似标准

推荐

谁引用了ASTM E1162-06 更多引用